株式会社TFF テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツのリリース一覧

テクトロニクス、SEMICON Japan 2016にて、ケースレーによる最新のソリューションを展示

パワー半導体、デバイス、材料、プロセスにおけるオンウェハ特性評価、信頼性試験、不良解析を効率化し、導入コストの低減を実現
報道発表資料 2016年12月7日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、2016年 12 月 14 日(水)から 16 日(金)の 3日間、東京ビックサイトにて開催される「SEMICON Japan 2016」に出展します。 テクトロニクスのブース(小間番号:2228)では、S...

テクトロニクス、体積抵抗率、表面抵抗率測定の優れたソリューションを発表

新しいソフトウェア・アプリケーションによるケースレーのテスト機器、フィクスチャの制御により、速く、より正確で再現性のある材料の特性評価が可能に
報道発表資料 2016年12月1日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、ASTM D257、IEC 60093など、業界で広く認知されている規格に準拠した、高抵抗率測定のための優れたソリューションを発表します。新しいKICKSTARTFL-HRMAアプリケーションは、ケー...

テクトロニクス、RSA7100A型ワイドバンド・シグナル解析ソリューションを発表

800MHzのリアルタイム帯域幅と2時間のストリーミング・ストレージ機能の統合により、レーダ設計やスペクトラム管理に最適なソリューション
報道発表資料 2016年11月30日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、800MHzのリアルタイム取込帯域と、全帯域での2時間のストリーミング・ストレージ機能をワン・ソリューションで実現した、RSA7100A型ワイドバンド・シグナル解析ソリューションを発表します。16k...

テクトロニクス、新しいDisplayPort Type-Cトランスミッタ・テスト・ソリューションを発表、コンプライアンス・テスト時間を大幅に短縮

最長16時間を要したDisplayPortのコンプライアンス・テストを6時間以下に
報道発表資料 2016年11月8日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、従来のDisplayPortソリューションに比べて、コンプライアンス・テストの所要時間を大幅に短縮する、新しいDisplayPort Type-Cトランスミッタ・テスト・ソリューションを発表します。 ...

テクトロニクス、業界初ONFIフラッシュ・メモリ規格用テスト・ソリューションを発表

ONFI 4.0規格用のコンプライアンス・テスト・ソフトウェアと、Nexusインターポーザを使用した効果的なプロービング
報道発表資料 2016年11月7日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、ONFI(Open NAND Flash Interface)規格に対応した、業界初のテスト・ソリューションを発表します。 新たなONFI 4.0テスト・ソリューションは、テクトロニクスの高性能オシロ...

テクトロニクス、データセンタ技術デバッグ用の新製品100Gリンク・トレーニング・ツールを発表

DPO70000SXシリーズ・オシロスコープ用拡張解析ソフトウェアにより、複雑な100Gデータセンタ・インターコネクトのデバッグを支援
報道発表資料 2016年10月27日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、DPO70000SXシリーズATIパフォーマンス・オシロスコープを使用した、新しい100Gリンク・トレーニング・ツールを発表します。100G電気デバッグ/バリデーション用の新しいオプションと拡張測定...

テクトロニクス、ケースレーのS540型パワー半導体テスト・システムを発表

SiC、GaNなど、最新のパワー半導体デバイスのための最大3kVの完全自動、高速ウェハレベルのパラメトリック・テスト・ソリューション
報道発表資料 2016年10月26日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、ケースレー S540型パワー半導体テスト・システムを発表します。S540型は、完全自動、48ピン対応のパラメトリック・テスト・システムであり、最大3kVのパワー半導体デバイスのウェハレベルのテス...

テクトロニクス、Inter BEE 2016にて放送システムのIP化をサポートする最新ソリューションを展示

放送・メディア業界のIPマイグレーション、4K HDR/WCG、ファイルベースQCを強力に支援
報道発表資料 2016年10月20日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、2016年11月16日(水)~18日(金)の3日間、幕張メッセで開催される「Inter BEE 2016」(国際放送機器展)に出展します。テクトロニクスのブース(ホール 4 ブース:4607)では、「放送...

テクトロニクス、ミックスド・ドメイン・オシロスコープによるCAN FDサポートを発表

CAN FDバス・データのデコード、トリガ、サーチ機能により、拡大する市場ニーズに対応
報道発表資料 2016年10月19日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、MDO3000シリーズ、MDO4000Cシリーズ・ミックスド・ドメイン・オシロスコープによるCAN FDのプロトコル・トリガ、デコード、サーチ・ソリューションを発表します。これにより、自動車産業に携...

テクトロニクス、光変調アナライザのソフトウェア強化を発表

マルチチャンネル光伝送システムの最先端コヒーレント研究に対応
報道発表資料 2016年9月21日 テクトロニクス(代表取締役 米山 不器)は、本日、光変調アナライザ(OMA)ソフトウェアの強化を発表します。最新のリリースでは、一つの測定システムでマルチチャンネルのコヒーレント変調方式の検証が可能になります。複数のOMAの校正、制御が行え、異なった...

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