新しいソフトウェア・アプリケーションによるケースレーのテスト機器、フィクスチャの制御により、速く、より正確で再現性のある材料の特性評価が可能に
報道発表資料
2016年12月1日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、ASTM D257、IEC 60093など、業界で広く認知されている規格に準拠した、高抵抗率測定のための優れたソリューションを発表します。新しいKICKSTARTFL-HRMAアプリケーションは、ケー...
800MHzのリアルタイム帯域幅と2時間のストリーミング・ストレージ機能の統合により、レーダ設計やスペクトラム管理に最適なソリューション
報道発表資料
2016年11月30日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、800MHzのリアルタイム取込帯域と、全帯域での2時間のストリーミング・ストレージ機能をワン・ソリューションで実現した、RSA7100A型ワイドバンド・シグナル解析ソリューションを発表します。16k...
最長16時間を要したDisplayPortのコンプライアンス・テストを6時間以下に
報道発表資料
2016年11月8日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、従来のDisplayPortソリューションに比べて、コンプライアンス・テストの所要時間を大幅に短縮する、新しいDisplayPort Type-Cトランスミッタ・テスト・ソリューションを発表します。 ...
ONFI 4.0規格用のコンプライアンス・テスト・ソフトウェアと、Nexusインターポーザを使用した効果的なプロービング
報道発表資料
2016年11月7日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、ONFI（Open NAND Flash Interface）規格に対応した、業界初のテスト・ソリューションを発表します。 新たなONFI 4.0テスト・ソリューションは、テクトロニクスの高性能オシロ...
DPO70000SXシリーズ・オシロスコープ用拡張解析ソフトウェアにより、複雑な100Gデータセンタ・インターコネクトのデバッグを支援
報道発表資料
2016年10月27日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、DPO70000SXシリーズATIパフォーマンス・オシロスコープを使用した、新しい100Gリンク・トレーニング・ツールを発表します。100G電気デバッグ／バリデーション用の新しいオプションと拡張測定...
SiC、GaNなど、最新のパワー半導体デバイスのための最大3kVの完全自動、高速ウェハレベルのパラメトリック・テスト・ソリューション
報道発表資料
2016年10月26日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、ケースレー S540型パワー半導体テスト・システムを発表します。S540型は、完全自動、48ピン対応のパラメトリック・テスト・システムであり、最大3kVのパワー半導体デバイスのウェハレベルのテス...
放送・メディア業界のIPマイグレーション、4K HDR／WCG、ファイルベースQCを強力に支援
報道発表資料
2016年10月20日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、2016年11月16日（水）～18日（金）の3日間、幕張メッセで開催される「Inter BEE 2016」（国際放送機器展）に出展します。テクトロニクスのブース（ホール 4 ブース：4607）では、「放送...
CAN FDバス・データのデコード、トリガ、サーチ機能により、拡大する市場ニーズに対応
報道発表資料
2016年10月19日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、MDO3000シリーズ、MDO4000Cシリーズ・ミックスド・ドメイン・オシロスコープによるCAN FDのプロトコル・トリガ、デコード、サーチ・ソリューションを発表します。これにより、自動車産業に携...
マルチチャンネル光伝送システムの最先端コヒーレント研究に対応
報道発表資料
2016年9月21日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、光変調アナライザ（OMA）ソフトウェアの強化を発表します。最新のリリースでは、一つの測定システムでマルチチャンネルのコヒーレント変調方式の検証が可能になります。複数のOMAの校正、制御が行え、異なった...
テクトロニクスはモニタリング機器とPTPグランドマスタを提供し、RAI展示会センターを経由したライブ番組制作放送オンラインをサポート
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2016年9月9日
［2016年9月8日］ 米国オレゴン州ビーバートン発
テクトロニクスは、IBC TVおよびVRT（ベルギーの公共放送局）-EBU（欧州放送連合）によるLiveIP Studioプロジェクトをサポートしています。IBC TVは、サプライヤやイベ...
