報道発表資料
2017年3月22日

テクトロニクス（所在地：東京都港区、代表取締役：木下 伸二）は、本日、業界トップクラスのマスク・テスト感度、低ノイズ性能により、生産の容量と歩留まりを向上し、現行100G製品の設計から生産への移行を可能にする、DSA8300型サンプリング・オシロスコープ用の新製品光モジュールを発表します。また、IEEE Ethernet規格による光テストのためのTDECQ（Transmitter and Dispersion Eye Closure） PAM4、および関連サポート測定を含む、400Gテスト・ソリューションの強化も発表します。

新製品の光モジュールと新しい機能、さらに100G/400G光特性評価と検証に関するテクトロニクスのソリューションは、3月23日まで米国カリフォルニア州ロサンゼルスで開催中のOFC（Optical Networking and Communication Conference and Exhibition）で展示します。

テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク（Brian Reich）は、次のように述べています。「100Gは設計から生産フェーズに移行しており、製造の歩留まりが最重要課題になっています。テクトロニクス・ソリューションの業界トップクラスの低ノイズ性能により、信頼性の高いテスト結果が得られるため、光コンポーネントやインターコネクトの製造歩留まりの向上を可能にします。さらに、新世代のデータ転送における詳細な解析、効果的なデバッグを可能にする広範囲にわたるツールや機能の提供によって、400Gへの道を継続的にリードしてまいります」

DSA8300型サンプリング・オシロスコープ用モジュールの新製品80C17型、および80C18型光モジュールは、広範囲な波長に対応し、業界トップクラスの3.9μWという低ノイズ性能を備えながら、28GBd PAM4規格の必要性能を超える－14dBmのマスク・テスト感度を提供しています。2チャンネル仕様の80C18型は、光関連の製造テストにおいて2倍のスループットと容量を実現します。また、デバイスが不良の場合には、信号成分をノイズとジッタに分解し、問題の理解と解決に役立つ解析ツールも用意しています。


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米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、お客様の問題を解決し、詳細の理解を深め、新たな発見を可能にする、革新的で正確かつ操作性に優れたテスト／計測モニタリング・ソリューションを提供しています。テクトロニクスは70年にわたり電子計測の最前線に位置し続けています。
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