テクトロニクス、EMI/EMCコンプライアンス・テストを加速する新たなオールインワン・ソリューションを発表

新製品EMCVuが、コンプライアンス・テストに合格するまでの時間と費用を大幅に削減




報道発表資料
2018年1月31日

テクトロニクス(所在地: 東京都港区、代表取締役: Kent Chon)は、本日、EMI/EMCプリコンプライアンス・テストとトラブルシュートのための新たなオールインワン・ソリューション、EMCVu(イーエムシービュー)を発表します。今日の電子回路設計において、初回のEMC(電磁両立性)テストで約50%の製品が不合格になっています。(*) 今回のオールインワン・ソリューションは、テクトロニクスのUSBリアルタイム・スペクトラム・アナライザ、SignalVu®-PC信号解析ソフトウェア、近接界プローブ、LISN(疑似電源回路網)、放射テスト・アンテナ、三脚、ケーブルなどで構成されています。プリコンプライアンス・テストに求められる複雑な設定がプリインストールされたEMCVuは、不合格の可能性が高いEMI/EMCコンプライアンス・テストを一度でパスできるよう強力にサポートする、正確、便利で費用対効果の高いソリューションです。

IoT(Internet of Things)の登場と互いに干渉する電子デバイスの急増により、放射ノイズの状況が複雑化し、製品をEMCエミッション要件に適合させることが容易ではなくなってきています。新たにIoTデバイスの開発に従事する多くのエンジニアはもとより、経験豊富なエンジニアにとってもEMI/EMCのテストは不安要素が多くあり、コンプライアンス・テストの不合格は開発予算の超過や開発スケジュールの遅延を引き起こしかねません。社内でプリコンプライアンス・テストを実施することで実際のコンプライアンス・テストの不合格の確率を下げることはできますが、高価な計測器と、それぞれの機器への大量の振幅補正データの入力や複雑な接続などのセットアップが必要になっています。また、テストの正確さ、時間のかかるデバッグ、レポート・ツールの不備など多くの課題を抱えています。

Wyatt Technical Services社の主任コンサルタントでEMCコンプライアンス・エキスパートのKenneth Wyatt氏は、次のように述べています。「EMCのコンプライアンスに適合するためには、まず正しい設計、基板のレイアウト、コンポーネントの選択が必要ですが、最良の条件が揃っていても、プリコンプライアンス・テストを実施せずにコンプライアンス・テストに合格することはギャンブルに近いものがあります。テクトロニクスのEMCVuを使用することで、EMCの知識が十分でないエンジニアであっても、簡単にプリコンプライアンス・テストを実施できます」

テクトロニクス、ワイドバンド・ソリューション事業部、バイス・プレジデント兼ジェネラル・マネージャのジョン・ボールドウィン(Jon Baldwin)は、次のように述べています。「最良の設計チームであっても、EMCコンプライアンス・テストは難しいものです。EMCテストに合格しなければ製品は出荷できません。とてもシンプルな話です。テクトロニクスは、どうしたらお客様がいち早く製品を市場に投入できるかということに注力しています。今回、潜在的な問題点をチェックボックス形式で確認できるEMCコンプライアンス・テストのソリューションをご提供します」

テクトロニクスのEMI/EMCソリューション
新しいソリューションの核となるのが、手ごろな価格で従来のデスクトップ・タイプの計測器と同等の性能を実現する、RSA306B型を含むテクトロニクスのUSBリアルタイム・スペクトラム・アナライザです。USB接続によって電源が供給される小型・軽量のUSBリアルタイム・スペクトラム・アナライザは、地下やガレージのような比較的ノイズの少ない測定環境において、EMI/EMCテストを簡単に実行できます。

この計測器は、ノートPCまたはタブレット上で実行するSignalVu-PCソフトウェアで制御されます。このアプリケーションでは、SignalVu-PCはオプションのEMCVuソフトウェアで強化され、同じユーザ・インタフェースでプリコンプライアンスとトラブルシュートの機能が利用できます。EMCVuには分かりやすいウィザードがあり、CISPR(International Special Committee on Radio Interference)などの規格サポート機能を内蔵し、選択ボタンによるアクセサリの選択、セットアップ機能を装備しています。周囲ノイズ自動取込み、マルチフェイル時の再測定、高調波マーカにより、詳細な解析によるデバッグも容易に行えます。試験結果は、注釈、画像と共に、設定可能なPDFまたはRTFフォーマットのレポートに簡単に保存できます。

スペクトラム・アナライザとソフトウェアとともに、テストの効率を最大限に高めるために検証されたアクセサリが用意されています。正確な結果のため、また、ユーザの時間を節約するため、さまざまなアクセサリのゲイン/ロスのファクタはソフトウェア内に取込み済みで、測定時には補正されたデータが表示されます。

*出典:Intertek White Paper, “Why 50% of Product fail EMC Testing the First Time”

<テクトロニクスについて>
米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、お客様の問題を解決し、詳細の理解を深め、新たな発見を可能にする、革新的で正確かつ操作性に優れたテスト/計測モニタリング・ソリューションを提供しています。テクトロニクスは70年にわたり電子計測の最前線に位置し続けています。
ウェブサイトはこちらから。 http://jp.tek.com 

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この企業の情報

組織名
株式会社TFF テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ
ホームページ
http://jp.tek.com/
代表者
Kent Chon
資本金
10,000 万円
上場
海外市場
所在地
〒108-6106 東京都港区港南品川インターシティB棟6階
連絡先
0120-441-046

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