報道発表資料
2015年3月23日

テクトロニクス（代表取締役、米山　不器）は、来る2015年4月8日(水)～10(金) 、東京ビックサイトにて開催される「第15回 光通信技術展 FOE2015」に出展し、100G/400Gコヒーレント光変調解析、PAM4測定、SR-4アイパターン／ジッタ解析、超広帯域と低ノイズを両立したATI技術など、最新の光通信ソリューションを一堂に紹介します。

【出展概要】

イベント名： 第15回　光通信技術展 FOE2015

会　期： 　2015年4月8日（水）〜10日（金）

開場時間： 10：00～18：00（10日（金］のみ17：00終了）

会　場： 東京ビッグサイト

テクトロニクス出展ブース：　 東4ホール　21-37 (株式会社ハイテック様と共同出展)


【出展ソリューション】

・100G/400Gコヒーレント光変調解析
テクトロニクスは、100 Gbps、400 Gbps、1 Tbps、さらにそれを超える最新の通信システムにおける複雑なコヒーレント光通信を信号生成から、変調、アクイジション、解析まで、トータルにサポートします。ブースでは、測定確度と柔軟性を格段に向上させた新製品を紹介し、スーパー・チャンネルまでを含めた柔軟かつ強力なコヒーレント解析ソリューションをご覧いただきます。

・PAM4測定ツール
テクトロニクスは56Gbpsから64GbpsまでのPAM4信号の生成とBER解析のソリューションを提供しています。ブースではPAM4信号を作成するための合成器、1ps単位、ビット単位で位相調整が可能な信号源を用いた64GPAM4信号作成、PAMレベル毎に独立したBERの測定、BER Contourのグラフィカルな測定結果表示が可能なBERTソリューションをご紹介します。

・SR-4 アイパターン／ジッタ解析
SR-4規格に対応した光測定ソリューションをご紹介します。マルチモードファイバ対応、32GHzの周波数帯域を備えています。新製品ではクロック・リカバリ、トリガ・ピックオフ機能を統合しており、光モジュール単体でのテストだけでなく装置に組み込まれた状態でのアイパターン測定およびジッタ解析が可能です。

・超広帯域と低ノイズを両立したATI技術
光コヒーレントの研究、開発における計測では広周波数帯域での信号取込はもとより、ノイズ、ENOBが非常に重要です。Tektronixではこうした課題に応えるATI技術を開発しました。ブースではこのATI技術と、その応用例についてご紹介します。


【出展機器】
コヒーレント光変調アナライザ、リアルタイム・オシロスコープ、サンプリング・オシロスコープ、ビットエラー・レート・アナライザ、パターン・ジェネレータ、任意波形発生器など。


＜テクトロニクスについて＞
テクトロニクスは、計測およびモニタリング機器メーカとして、世界の通信、コンピュータ、半導体、デジタル家電、放送、自動車業界向けに計測ソリューションを提供しています。65年以上にわたる信頼と実績に基づき、お客様が、世界規模の次世代通信技術や先端技術の開発、設計、構築、ならびに管理をより良く行えるよう支援しています。米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、現在世界22カ国で事業を展開しています。詳しくはウェブ・サイト（jp.tektronix.com）をご覧ください。

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