PCベースのSourceXpressプラットフォームが、テクトロニクス任意信号発生器のリモート制御と波形作成モジュール用の汎用性に優れたプラグイン・アーキテクチャを提供
報道発表資料
2015年12月16日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、シグナル・ジェネレータを制御し、波形生成が行える、便利で汎用性に優れたソリューションを発表します。新製品のPCベースSourceXpress（ソースエクスプレス）プラットフォームでは、複数の任意波形...
スペクトラムとアナログ／ロジックの同期に加え、6つの計測機能を1台に統合、RF、高速ロジックからアナログまで、あらゆるアプリケーションの設計／デバッグ時間を短縮
報道発表資料
2015年12月9日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、スペクトラム・アナライザ機能を含む、最大6つの計測器機能を1台に統合できるMDO4000Cシリーズ・ミックスド・ドメイン・オシロスコープを発表します。MDO4000Cシリーズは、高性能オシロスコープを...
機器にかかるコストを抑え、ラボ実験をすばやく簡単に実行するソリューション
報道発表資料
2015年12月2日
ケースレーインスツルメンツ（代表取締役 木下 伸二、以下、ケースレー）は、本日、業界初、グラフィカル・タッチスクリーンを搭載した新製品、2450-EC型および2460-EC型ベンチトップ電気化学測定システムを発表します。新製品のスタンドアロン・ソリュ...
DPO70000SXシリーズ、MSO/DPO70000DXシリーズ・オシロスコープ、P7600シリーズTriMode(TM)プローブによる、業界トップクラスの低ノイズM-PHYテスト・ソリューション
報道発表資料
2015年10月22日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、MIPI(R) M-PHY(R) 3.1仕様およびCTS（Conformance Test Suite）3.1用の業界初、完全自動物理レイヤ・トランスミッタ・テスト・ソリューションを発表します。この...
4K対応波形モニタリングや、ファイルベース・コンテンツ運用、4Kコーデックの設計／開発に対応する、新たなテスト／計測ソリューションを展示
報道発表資料
2015年10月20日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、11月18日(水)～11月20日(金)の3日間、幕張メッセで開催される、「InterBEE 2015」（国際放送機器展）に出展します。 テクトロニクスのブース（ホール3 ブース：3111）では、「4K映像...
最大1080W出力プログラマブルDC電源、60MHzの任意波形／ファンクション・ジェネレータで業界トップクラスの価格／性能比を実現
報道発表資料
2015年10月7日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、業界トップクラスの価格／性能比を実現した任意波形／ファンクション・ジェネレータと、ケースレーのプログラマブルDC電源の新製品を発表します。これにより、テクトロニクス／ケースレーの基本計測器ライン・アッ...
ノイズ源の特定や分析、無線LANテスト、低消費電流測定などの最新ソリューションを紹介
報道発表資料
2015年10月1日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、2015年10月7日（水）から10月10日（土）の4日間、幕張メッセで開催されるアジア最大級の最先端 IT・エレクトロニクス総合展 「CEATEC 2015」に出展します。
テクトロニクスのブース（展...
新製品の50GHzモデル追加により、業界トップクラスの低ノイズATI技術でPAM4のテストに最適
報道発表資料
2015年9月30日
テクトロニクス（代表取締役 米山不器）は、本日、DPO70000SXシリーズATIパフォーマンス・オシロスコープのラインアップに、50GHzモデルと23GHzモデルを追加したことを発表します。新製品の50GHzモデルは、最上位機種の70GHz帯域は必...
世界最高クラスの低ノイズ・アクイジションを実現。リアルタイム・オシロスコープとサンプリング・オシロスコープの両方で実行可能な測定ツール
報道発表資料
2015年9月29日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、最新のPAM4変調測定に対応する、光／電気両方のインタフェースをフル・サポートした、業界で最も総合的な解析ツールセットを発表します。この解析ツールは、DPO70000SXシリーズ70GHzリアルタイム...
新しいテスト・ソリューションにより、IEEE 802.3bm関連の技術開発を加速し、迅速で再現性に優れた光測定を可能に
報道発表資料
2015年9月29日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、業界初の完全自動TDEC（Transmitter and Dispersion Eye Closure）測定および100GBASE-SR4のコンフォーマンス・テスト・ソリューションを発表します。IEE...
