最大80%ものテスト時間短縮を可能に
報道発表資料
2014年3月6日
テクトロニクス（代表取締役 米山 不器）は、本日、MSO/DPO70000シリーズ高性能オシロスコープ用の新オプション、Opt. 40G-CR4を発表します。このソリューションは、IEEE 802.3-2012の40GBASE-CR4設計のコンプライアンス・テスト／デバッグに対応しており、手動テストに比べ、トランスミッタのテスト時間を最大80%も短縮します。
40GBASE-CR4は40ギガビットのEthernet技術であり、4つのレーンを使用し、最長7mの銅線で40Gbps（4×10.3125Gbps）のデータ・レートを実現します。さまざまなコンピュータ、ネットワーク・アグリゲーション、コア・ネットワーク・アプリケーションに対応した、最新のEthernet規格の一つです。
テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク（Brian Reich）は、次のように述べています。「40GBASE-CR4などの高速規格の物理層の検証／デバッグは、非常に複雑で時間のかかる作業です。設計エンジニアに最適なプラットフォームであるテクトロニクスの高性能オシロスコープ用に開発された新オプションOpt. 40G-CR4は、コンプライアンス・テストから、当社DPOJETジッタ／アイ・ダイアグラム解析ソフトウェアを使用したデバッグ環境までシームレスに移動し、物理層テストに関連したさまざまな作業を簡単に実行します」
今回発表する新ソリューションは、コンプライアンス・ソフトウェアだけではなく、テスト・フィクスチャを含むテスト・ソリューションとして提供されるため、独自にフィクスチャを設計する必要はありません。
もう一つの大きな特長が、リターン損失プロットのサポートです。Opt. 4G-CR4は、リミット値に対する結果のマップ入力として.s16pファイルを取込みます。これにより、計測器上での共通のレポート、プロット機能が使えることになります。コンプライアンス・ソフトウェアには設計対象を詳細に解析するためのさまざまな測定機能も追加されています。測定項目としては、トータル・ジッタ（TJ）、デターミニスティック・ジッタ（DJ）、J2、J9、トランジション・タイムが含まれています。
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テクトロニクスは、計測およびモニタリング機器メーカとして、世界の通信、コンピュータ、半導体、デジタル家電、放送、自動車業界向けに計測ソリューションを提供しています。65年以上にわたる信頼と実績に基づき、お客様が、世界規模の次世代通信技術や先端技術の開発、設計、構築、ならびに管理をより良く行えるよう支援しています。米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、現在世界22カ国で事業を展開し、優れたサービスとサポートを提供しています。詳しくはウェブ・サイト（jp.tektronix.com）をご覧ください。
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