100G、400G規格の最新の光測定、マルチOMAシステムに対応した業界唯一の光変調解析ソフトウェアのエンドツーエンド・デモ
報道発表資料
2017年3月7日
テクトロニクス（所在地：東京都港区、代表取締役：木下 伸二）は、3月21日から米国カリフォルニア州で開催されるOFC 2017で、米国テクトロニクスがデータセンタ・ネットワークのための最新の光テスト・ソリューションを展示することを発表します。OFC 2017は、光通信、ネットワーク技術者のための世界最大規模の展示会です。この展示会には600社以上の企業が展示を行い、1,150の技術／ビジネス・プレゼンが行われます。13,000人以上の参加者が見込まれ、より広い帯域、データセンタのさらなる性能向上が求められる民生／事業要求に応えるための最新の光技術が展示されます。
テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク（Brian Reich）は、次のように述べています。「100Gが生産にのり、400Gの設計が加速するなか、シリコンやシステム設計の特性評価、検証、デバッグにおける課題は比較できないほど増加しています。OFCでのテクトロニクス・ブースでは、高速のデータ・レートや最新の規格あるいは、最先端の研究における障害を取り除き、製品の市場投入までの時間を短縮することができる高性能なソリューションをご紹介します」
データセンタ・ネットワークの技術プロバイダは、常に容量の増加と高速データ転送の正確さを追求しています。OFCのテクトロニクス展示ブース（ブース番号：2339）では、以下のような電気／光の特性評価ソリューションを展示します。
- DSA8300型サンプリング・オシロスコープと80GHz光サンプリング・モジュールによる、最高28GBdのNRZ、PAM4の高感度シングルモード／マルチモード光測定を含む、IEEE 802.3bsベースの400G光テスト・サポート
- DPO70000SXシリーズ70GHz ATIパフォーマンス・オシロスコープによる、400G規格のシングルショットPAM4信号の解析と、ライブ・トリガ、イコライゼーション後のエラー検出
- AWG70000シリーズ任意波形ジェネレータ、DPO70000SXシリーズ・オシロスコープと、業界唯一の光変調解析ソフトウェアによる、空間分割多重などのアプリケーションにおけるマルチOMAシステムのサポートのエンドツーエンドのデモ
- 次世代の光コンポーネント、インターコネクト製造分野に向けた画期的な新製品
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米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、お客様の問題を解決し、詳細の理解を深め、新たな発見を可能にする、革新的で正確かつ操作性に優れたテスト／計測モニタリング・ソリューションを提供しています。テクトロニクスは70年にわたり電子計測の最前線に位置し続けています。
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