報道発表資料
2017年6月14日

テクトロニクス（所在地： 東京都港区、代表取締役： Kent Chon）は、本日、OIF-CEI-56G VSR/MR/LR PAM4規格の包括的な400G電気コンプライアンス・テストを含む、PAM4テスト・ソリューションの拡充を発表します。新製品の400G-TXEソフトウェアは、最高周波数帯域70GHzのモデルをラインアップしている高性能リアルタイム・オシロスコープDPO70000SXシリーズで実行されます。この新ソリューションは自動ターンキー・ソリューションであり、一度の実行でPAM4のコンプライアンス・テストが行えるため、わずかなテスト時間で高い信頼性、再現性のあるテスト結果、優れた操作性が得られます。

PAM4の符号化では、NRZ（Non-Return to Zero）に比べてシリアル・データ・チャンネルで2倍のデータ・レートになります。しかし、複雑な変調方式により、テスト、測定において数多くの課題があります。PAM4の数多くの測定仕様は未だに流動的であり、規格で規定されている最新の測定技術でも難しいものになっています。複雑なテスト手順をすべて実行するのに要する時間は大きな課題であり、テスト・システムによって相関がとれる、信頼性のある測定結果も必要になります。

テクトロニクス、パフォーマンス・オシロスコープ、ジェネラル・マネージャのブライアン・ライク（Brian Reich）は、次のように述べています。「テクトロニクスは、DPO70000SXシリーズ・オシロスコープでPAM4テストを自動化することで、400Gに移行するための使いやすいターンキー・テスト・ソリューションをご提供します。400G電気PAM4規格のコンプライアンス・テストの優れた再現性は、成長を続けるデータセンタ・コミュニティに対するテクトロニクスPAM4測定ツールのラインアップに新たに追加されたアプローチです」

テクトロニクスの400Gソフトウェアは、仕様で規定されているリミットでの電気PAM4信号の検証が可能であり、OIF-CEI仕様レベルのコンプライアンス・テストに完全に対応します。ソリューションには、ISIジッタまたは他の障害を含む、すべての条件において信頼性のある測定結果が得られるデジタル・クロック・リカバリ機能を含んでいます。テクトロニクスの400G-TXEコンプライアンス・ソフトウェアは、規格で求められるテストを1つのアプリケーションで実行し、短時間に、高い信頼性で再現性のある測定結果が得られる、使いやすいソフトウェアです。

コンプライアンス・テストだけでなく、テクトロニクスはリアルタイム・オシロスコープ、等価時間オシロスコープの両方で実行可能なPAM4解析／デバッグ・ソフトウェア・ソリューションも用意しており、BERやアイの高さ／幅などの不良条件で詳細な検証が行えます。

400G-TXEソリューションは、優れた低ノイズ性能、測定確度を持つ、高性能DPO70000SXシリーズの70GHz、59GHz、50GHzリアルタイム・オシロスコープで実行します。OIF-CEIなどのハイスピード規格では、DPO70000SXシリーズで提供されているオシロスコープの周波数帯域が必要です。

＜テクトロニクスについて＞
米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、お客様の問題を解決し、詳細の理解を深め、新たな発見を可能にする、革新的で正確かつ操作性に優れたテスト／計測モニタリング・ソリューションを提供しています。テクトロニクスは70年にわたり電子計測の最前線に位置し続けています。
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