テクトロニクス、トップクラスの高チャンネル実装密度と測定性能を備えた2チャンネル・マルチメータを発表

テクトロニクス

2台の7.5桁サンプリング・マルチメータの機能を1Uのラック・スペースで実現したケースレーの新製品DMM7512型は、大量生産における製造試験に最適



報道発表資料
2018年11月12日

テクトロニクス(所在地: 東京都港区、代表取締役: Kent Chon)は、本日、ケースレー DMM7512型サンプリング・マルチメータを発表します。DMM7512型は、2チャンネル、7.5桁のサンプリング・マルチメータであり、2台のマルチメータをスペース効率に優れた1Uのフル・ラック幅で実現しています。業界トップクラスのチャンネル実装密度と優れた性能を持ったDMM7512型は、大量の同時測定能力、測定性能、コンパクト・サイズが求められる大量生産の製造試験アプリケーションに最適です。

3Dセンシング用のレーザ・ダイオード、モバイル・デバイス、自動車用センサ、IoTデバイスなどの製品、コンポーネントの製造メーカは、生産量と需要の増加により、試験コストを抑え、テスト機器の数を減らし、作業スペース、ラック・スペースを節約する必要に迫られています。また、製造要件に合った同時測定能力と測定性能も確保する必要があります。既存の7.5桁高精度DMMはどれもこの要件には適合しておらず、わずか1チャンネルであっても2Uのラックの高さ、ハーフラック幅サイズになっているのが現状です。

テクトロニクス、ケースレー製品ライン、副社長兼事業部長、ロリ・キークラック(Lori Kieklak)は、次のように述べています。「テスト・エンジニアはますます難しい問題に直面するようになっています。コストを抑え、製造スループットを最大にするだけでなく、最新の低電力コンポーネント/製品を試験するのに必要な測定性能、感度を持った試験機器も必要になっています。新製品の薄型デジタル・マルチメータは、優れた測定確度、測定感度、高速サンプリング速度、ビルトイン・インテリジェンスを備えています。測定性能で何ら妥協することなく、お客様が必要としている高密度テスト・ソリューションをご提供します」

DMM7512型は、波形パラメータを取込むための機器を追加することなく、1μVの電圧感度、0.1nAの電流感度を持った1MS/s、18ビットのデジタイザにより、トランジェント信号/波形、さらにバッテリのドレイン電流などの低レベルの波形であっても取込むことができます。2,750万回のタイムスタンプ付の読取りが保存できるため、どちらのDMMも波形のすべてのプロファイルを取込み、さまざまなパラメータでトリガをかけることができます。

DMM7512型は、低電力コンポーネントのDC測定において10nV、0.1μΩ、1pAの感度があります。また、オフセット補正抵抗による高確度の低抵抗測定、4線式測定、ドライ・サーキット測定にも対応しています。さらに、1年間のDC電圧確度は最大でも14ppmであり、高品質制御によるTUR(Test-Uncertainty Ratio)が最大になります。

DMM7512型は、組込みのTSP(Test Script Processor)でテスト・スクリプトを実行することで、製造環境における試験時間を短縮します。計測器のアクションごとにPCがコマンドを送る必要がないため、PCによるコマンド通信時間が短くなります。また、DMM7512型の一つのDMMはマスタ・コントローラとして簡単にセットアップできるため、計測器間のインタフェースであるケースレーのTSP-Linkにより、テスト・ルーチンの実行、他の計測器の制御の両方が実行できます。

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米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、お客様の問題を解決し、詳細の理解を深め、新たな発見を可能にする、革新的で正確かつ操作性に優れたテスト/計測モニタリング・ソリューションを提供しています。テクトロニクスは70年にわたり電子計測の最前線に位置し続けています。
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