報道発表資料
2019年9月26日

テクトロニクス（所在地： 東京都港区、代表取締役： Kent Chon）は、来る 10 月 15 日（火）～ 10 月 18 日（金）、幕張メッセにて開催される CEATEC 2019 に出展します。テクトロニクスのブース（ホール 6 デバイス&テクノロジーエリア 小間番号：F110）では、「超スマート社会(Society 5.0)」の実現に不可欠な高速通信や IoT、ロボットなどの技術革新をサポートする最新計測ソリューションを紹介します。

Society5.0 のベース技術には、高速の有線／無線の通信やインタフェース、低消費電力技術 など、多くの要素がありますが、ここでは、特に計測の課題となる高速／中速の通信／インタ フェースのテストやデバッグ、ＩｏＴデバイスの評価、テスト、パワー・インテグリティに関する新しいソリューションを紹介します。 また、6 月に発表した次世代オシロスコープのラインアップも展示します。

【出展ソリューション】
電源品質評価 － パワー・インテグリティの新ソリューション
近年、デバイスの高速化に伴って電源の低電圧化、大電流化、多系統化が進んでおり、パ ワー・インテグリティ(電源品質)に対する要求がますます厳しくなっています。従来、パワー・イ ンテグリティの評価のために専用の測定器を用意する必要がありましたが、今回、汎用のオシロスコープにオプションのソフトウェアとアクセサリを追加することによって、電源品質アナライザとして使用できる新しいソリューションを紹介します。

IoT デバイスの通信、ノイズ、消費電流のテストと解析
Bluetooth 5.1、LoRa など、IoT を支える無線通信機器の開発には、間欠動作する通信信号の品質解析や EMI/ノイズ対策、アンテナ評価、微小な消費電流測定、バッテリ評価といった多 くの課題があります。このコーナでは、USB リアルタイム・スペクトラム・アナライザや DMM をは じめとする小型かつコストパフォーマンスの高い測定器による IoT課題に対してのスマートなソリューションを紹介します。

高速インタフェース USB3.2、PCI Express、Thunderbolt3、DDR の規格テストとデバッグ
USB3.2、PCI Express、Thunderbolt3 などの高速シリアル規格に対するコンプライアンス・テス トの実演を行い、テスト・パターン切替えからレポート作成までのワンボタン・テストとデバッグの ソリューションを紹介します。また、最新のメモリ・インタフェースに対するコンプライアンス・テストとデバッグのソリューションを展示し、未終端回路での観測波形の反射波除去についても展示します。

MIPI D-PHY, LVDS, Ethernet の新しい評価、デバッグ・ツール
USB2.0 や Ethernet、LVDS や DDR3 などの技術はいたるところで汎用的に使用されていますが、最適なツールを使用しないと正確で効率的なテストや評価はできません。こちらのコーナでは、低ノイズ、高分解能のオシロスコープと最新のテスト・プラットフォーム TekExpress をベースにした新しい自動テスト、デバッグのソリューションを紹介します。

組込み機器の設計デバッグを効率化する次世代のオシロスコープ
世界最大クラスの大型タッチ液晶と直観的ユーザ・インタフェースを備え、12 ビット AD や FlexChannel などの革新技術を満載する、特に組込み機器のデバッグを飛躍的に向上させる次世代オシロスコープを展示します。
また、会期中 CEATEC 会場内で以下 2 つのテーマでセミナを開催します。

【会場内でのセミナ】
4T-11　USB Type-C、USB PD からUSB４まで：最新USB 規格を一挙に解説！
講演日：　10 月 18 日(金) 11:30-12:15
講演会場：　幕張メッセ 国際展示場 イノベーショントークステージ
講師：　テクトロニクス シニア・アプリケーション・エクスパート 畑山 仁

4EB-12　IoT デバイスの通信を確実に行うための無線測定と超低消費電力デバイスの精密消費電流測定手法 講演日：　10 月 18 日(金曜) 12:30-13:30
講演会場：　幕張メッセ 国際展示場 セミナールーム B
講師：　テクトロニクス　アプリケーション・エンジニア 岡田 信孝

セミナの聴講にはJESAアカウントの登録が必要になります。詳細はCEATECのウェブサイトをご覧ください。 https://www.ceatec.com/ja/

テクトロニクスについて
米国オレゴン州ビーバートンに本社を置くテクトロニクスは、お客様の問題を解決し、詳細の理解を深め、新たな発見を可能にする、革新的で正確かつ操作性に優れたテスト／計測モニタリング・ソリューションを提供しています。テクトロニクスは70年にわたり電子計測の最前線に位置し続けています。
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